科技产物——小巧玲珑形涂层测厚仪

2010-06-29

            漆膜厚度是涂装施工中首要的控制因素，据统计，生产中涂层的外观缺陷，如流挂、漆层薄、露底色等有超过一半以上是因为漆层膜厚控制不当造成的。涂膜的外观指标如光泽、色差、桔皮、 DOI等也都需要以膜厚控制为基础。除了对涂装质量的影响外，涂装成本的控制也需要靠控制漆膜厚度来实现，合适的漆膜厚度不仅节约了涂料用量，而且有助于涂装质量的稳定。统计显示，采用同样的喷涂设备时，是否精确控制膜厚，所消耗的涂料用量相差在25%以上。
    顾名思义，涂层测厚仪是精确控制膜厚的一种仪器。涂层测厚仪可以分为3种测量方式:

    电磁式：可测量金属底材上的非磁性镀层（底材为铁或钢）

    高周波式：可测量金属底材上的非磁性镀层（底材为铝、铜和黄铜）

    双制式：兼具以上两种功能 

    ·世界新科技,手机外形,小测量面积

    ·菜单操作,分辨率0.1?m,两类基休自动识别

漆膜厚度是涂装施工中首要的控制因素，据统计，生产中涂层的外观缺陷，如流挂、漆层薄、露底色等有超过一半以上是因为漆层膜厚控制不当造成的。涂膜的外观指标如光泽、色差、桔皮、 DOI等也都需要以膜厚控制为基础。除了对涂装质量的影响外，涂装成本的控制也需要靠控制漆膜厚度来实现，合适的漆膜厚度不仅节约了涂料用量，而且有助于涂装质量的稳定。统计显示，采用同样的喷涂设备时，是否精确控制膜厚，所消耗的涂料用量相差在25%以上。
    顾名思义，涂层测厚仪是精确控制膜厚的一种仪器。涂层测厚仪可以分为3种测量方式:

    电磁式：可测量金属底材上的非磁性镀层（底材为铁或钢）

    高周波式：可测量金属底材上的非磁性镀层（底材为铝、铜和黄铜）

    双制式：兼具以上两种功能

    ·世界新科技,手机外形,小测量面积

    ·菜单操作,分辨率0.1?m,两类基休自动识别

    ·量程:0-1500?m,0-10mm,90?直角探头

    ·九种规格,统计值在线显示

    ·德国PHYNIX公司制造

    · Surfix(B)FN 型适合测量金属基体上的涂镀层、氧化膜等。
    · Surfix(B)F 型适合钢铁基体上的涂镀层厚度测量。
    · Surfix(B)N 型适合有色金属材上的膜厚测量。

    * 字母B代表是无数据统计的型号

    产品参数

    品牌  PHYNIX 
    型号  (B)FN、(B)F、(B)N 
    产地  德国 
    基本参数 
    测量范围 0-1500?m 
    重量 205g 
    外形尺寸 137X66X23mm 

    ·量程:0-1500?m,0-10mm,90?直角探头

    ·九种规格,统计值在线显示

    ·德国PHYNIX公司制造

    · Surfix(B)FN 型适合测量金属基体上的涂镀层、氧化膜等。
    · Surfix(B)F 型适合钢铁基体上的涂镀层厚度测量。
    · Surfix(B)N 型适合有色金属材上的膜厚测量。

    * 字母B代表是无数据统计的型号

    产品参数

    品牌  PHYNIX 
    型号  (B)FN、(B)F、(B)N 
    产地  德国 
    基本参数 
    测量范围 0-1500?m 
    重量 205g 
    外形尺寸 137X66X23mm 

漆膜厚度是涂装施工中首要的控制因素，据统计，生产中涂层的外观缺陷，如流挂、漆层薄、露底色等有超过一半以上是因为漆层膜厚控制不当造成的。涂膜的外观指标如光泽、色差、桔皮、 DOI等也都需要以膜厚控制为基础。除了对涂装质量的影响外，涂装成本的控制也需要靠控制漆膜厚度来实现，合适的漆膜厚度不仅节约了涂料用量，而且有助于涂装质量的稳定。统计显示，采用同样的喷涂设备时，是否精确控制膜厚，所消耗的涂料用量相差在25%以上。
    顾名思义，涂层测厚仪是精确控制膜厚的一种仪器。涂层测厚仪可以分为3种测量方式:

    电磁式：可测量金属底材上的非磁性镀层（底材为铁或钢）

    高周波式：可测量金属底材上的非磁性镀层（底材为铝、铜和黄铜）

    双制式：兼具以上两种功能

     ·世界新科技,手机外形,小测量面积

    ·菜单操作,分辨率0.1?m,两类基休自动识别

    ·量程:0-1500?m,0-10mm,90?直角探头

    ·九种规格,统计值在线显示

    ·德国PHYNIX公司制造

    · Surfix(B)FN 型适合测量金属基体上的涂镀层、氧化膜等。
    · Surfix(B)F 型适合钢铁基体上的涂镀层厚度测量。
    · Surfix(B)N 型适合有色金属材上的膜厚测量。