无损检测仪器设备校准或核查要求

2011-04-09

                                            无损检测仪器设备校准或核查要求
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（规范性附录）
 A.1 超声检测
A.1.1 初次使用的标准试块、对比试块，应有有效的合格证书。
A.1.2 标准试块、对比试块每次使用前，应进行外观腐蚀及机械损伤情况核查；每隔4年应采用经校准的器具对其半径及其它尺寸进行核查。
A.1.3脉冲反射式超声波探伤仪每1年，应进行校准（或自校准），方法参照JJG 746-2004《超声波探伤仪检定规程》。
A.1.4 脉冲反射式超声超声波探伤仪每隔3个月，应采用标准试块进行水平线性、垂直线性核查，方法参照JB/T 10061-1999《A型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能  测试方法》。
A.1.5 探头使用前，应进行前沿距离（入射点）、K值（折射角β）与双峰、主声束偏离等主要参数核查，方法参照JB/T 10062-1999《超声探伤用探头  性能测试方法》。
A.1.6 超声检测系统每次使用前，斜探头应进行前沿距离（入射点）、K值（折射角β）与主声束偏离等核查；直探头应进行始脉冲宽度（在基准灵敏度下）、灵敏度余量和分辨力等核查，方法参照JB/T 9214-1999 《A型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能  测试方法》和/或JB/T 10062-1999《超声探伤用探头  性能测试方法》。
A.2  磁粉检测
A.2.1 永久磁铁或电磁轭磁粉探伤机的提升力，至少每半年应采用经校准的提升力重力试块进行核查。
A.2.2 提升力重力试块，每2年应采用经校准的秤重器具进行核查。
A.2.3 磁粉检测设备的电流表，至少每半年进行核查或校准（或自校准）。
A.2.4黑光辐照计、照度计、磁场强度计、毫特斯拉计等，至少每年进行核查或校准（或自校准）。
A.2.5 设备内部短路检查、电流载荷、通电时间等，至少每年进行核查。
A.2.6 磁粉检测系统综合性能（系统灵敏度），每次检测前，用标准试片、标准试块进行核查。
A.2.7 对于荧光磁粉检测，每次检测前，应采用黑光辐照计对被检测表面的黑光辐照度进行核查，采用白光照度计对周围环境的白光亮度进行核查；对于非荧光磁粉检测，每次检测前，应采用白光照度计对周围环境的白光亮度进行核查。
A.3  渗透检测
A.3.1 黑光辐照度计、荧光亮度计和照度计等，至少每年进行核查或校准（或自校准）。
A.3.2 对于荧光渗透检测，每次检测前，应采用黑光辐照计对被检测表面的黑光辐照度进行核查，采用白光照度计对周围环境的白光亮度进行核查；对于非荧光渗透检测，每次检测前，应采用白光照度计对周围环境的白光亮度进行核查。
A.4  射线检测
A.4.1 射线设备均应制作曝光曲线，曝光曲线每年至少核查一次；射线设备更换重要部件或经较大修理后，应及时对曝光曲线进行核查。
A.4.2 黑度计（光学密度计）至少每6个月，应采用标准密度片进行核查，方法参照JB/T 4730.2附录B要求。
A.4.3 标准密度片每2年，应进行校准（或自校准），方法参照JJG 452-1986《黑白标准密度片检定规程》。
A.4.4 个人剂量计、剂量报警仪每1年，应送法定计量检定机构进行检定。
A.4.5 观片灯的亮度和均匀度，应每年进行核查或校准。
A.5  厚度检测
A.5.1 超声测厚仪每1年，应进行校准（或自校准），方法参照JJG 403-1986《超声波测厚仪检定规程》或 JJF11266-2004《超声波测厚仪校准规范》。
A.5.2 涂层测厚仪每1年，应进行校准（或自校准），方法参照JJG 889-1995《磁阻法测厚仪检定规程》、JJG818-1993《电涡流式测厚仪检定规程》。
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